服務(wù)支持
Support
服務(wù)方案
波振電子為每個(gè)客戶所選用得產(chǎn)品提供全過程得服務(wù)
信息獲取
01
意向交流
02
產(chǎn)品選型
03
研發(fā)生產(chǎn)
04
樣品交付
05
量產(chǎn)交貨
06
售后服務(wù)
07
持續(xù)跟進(jìn)
08
測試
波振電子可以為客戶提供晶振電性能測試，晶振可靠性測試，晶振失效分析，破壞性物理分析（DPA）等全方位技術(shù)支持，助力客戶提升電子產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。
電性能測試
根據(jù)產(chǎn)品類別和用戶要求，本公司測試晶振電性能參數(shù)有如下：頻率，溫漂，電流，高/低電平，上升/下降時(shí)間，占空比，輸出幅度，諧波，雜散，相噪，抖動(dòng)等
可靠性測試
本公司可以對(duì)晶振做以下測試：密封，老化，振動(dòng)，機(jī)械沖擊，加速度，溫度沖擊，高低溫儲(chǔ)存，耐焊接熱，耐濕，鹽霧，可焊性，耐溶劑，壽命測試
失效分析
確認(rèn)晶振失效后，一般進(jìn)行外部目檢，X光檢測，粗檢漏/細(xì)檢漏，電性能測試，內(nèi)部目檢等，進(jìn)行全面分析，找出失效真實(shí)原因
破壞性物理分析（DPA）
一般做常規(guī)九項(xiàng)：外部目檢，X光檢測，PIND，密封性測試，內(nèi)部水汽含量檢測，內(nèi)部目檢，掃描電鏡檢查，鍵合強(qiáng)度，芯片剪切強(qiáng)度
樣品申請(qǐng)
SAF Coolest v1.2 設(shè)置面板 GAGSD-ZGYF-JEAEE-ZAV
無數(shù)據(jù)提示
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